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EN ISO 11554-2008 光学和光子学.激光器和激光器相关设备.激光束功率、能量和时间特征的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 22:12:15  浏览:9837   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Opticsandphotonics-Lasersandlaser-relatedequipment-Testmethodsforlaserbeampower,energyandtemporalcharacteristics(ISO11554:2006);EnglishversionofDINENISO11554:2008-11
【原文标准名称】:光学和光子学.激光器和激光器相关设备.激光束功率、能量和时间特征的试验方法
【标准号】:ENISO11554-2008
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2008-11
【实施或试行日期】:2008-11-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:连续波形激光器;定义;能量;英语;精密机械;激光束;激光器;测量;测量技术;光学仪器;光学;参数;光子学;性能;脉冲激光;安全要求;划痕试验程序;稳定性;测试;时间响应
【英文主题词】:Continuouswavelaser;Definition;Definitions;Energy;Englishlanguage;Finemechanics;Laserbeams;Lasers;Measurement;Measuringtechniques;Opticalinstruments;Optics;Parameters;Performance;Photonics;Properties;Pulsedlasers;Safetyrequirements;Scoringprocedures(tests);Stability;Testing;Timeresponse
【摘要】:
【中国标准分类号】:L51
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:28P.;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Aerospaceseries;structuraladhesivestestmethods;part5:ageingtests;germanversionEN2243-5:1992
【原文标准名称】:航空航天系列.结构胶粘剂的试验方法.第5部分:老化试验
【标准号】:DINEN2243-5-1992
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1992-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境影响;航空运输;气候试验;胶粘剂;试样;航空航天运输;航天运输;胶接;试验;老化;老化试验;耐力
【英文主题词】:Adhesive-bondedjoints;Adhesives;Aerospacetransport;Ageingbehaviour;Ageing(materials);Ageingtests;Airtransport;Bonding;Climatictests;Environmentaleffects;Resistance;Spacetransport;Testspecime
【摘要】:
【中国标准分类号】:V13;G39
【国际标准分类号】:49_025_50
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语


MIL-STD-2000, MILITARY STANDARD: STANDARD REQUIREMENTS FOR SOLDERED ELECTRICAL AND ELECTRONIC ASSEMBLIES (16 JAN 1989) [NO S/S DOCUMENT]., This standard establishes general requirements for materials and procedures for making soldered electrical and electronic connections.Soldered connections for leads and wires inserted in holes, surface mounted tolands, or attached to terminals shall be in accordance with this standard. Inaddition, component mounting requirements and acceptance criteria are providedto permit evaluation of complete assemblies. The manufacture of discretedevices, microcircuits, multichip microcircuits, and film microcircuits isoutside the scope of this standard.

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